Poznańska Księgarnia Akademicka


miernictwo
Pokazano od 1 do 10 z 28
Sortuj według: Nazwy  /  Ceny  /  Autora
ASTRONAWIGACJA CZ.1 WPROWADZENIE DO ASTRONAWIGACJI

ASTRONAWIGACJA CZ.1 WPROWADZENIE DO ASTRONAWIGACJI

ISBN: 978-83-60278-19-2
Autor: ŻOŁNIERUK D.
Wydawca: Wydawnictwo Akademickie Akademii Marynarki Wojennej
Rok wydania: 2008
Liczba stron: 496

Cena: 41.50 zł
Książka dostępna również w naszej księgarni w Poznaniu, ul. Piotrowo 3.

ASTRONAWIGACJA CZĘŚĆ 1 WPROWADZENIE DO ASTRONAWIGACJI POMOCE ASTRONAWIGACYJNE

ASTRONAWIGACJA CZ.2 ZASTOSOWANIE METOD ASTRONOMICZNYCH W NAWIGACJI

ASTRONAWIGACJA CZ.2 ZASTOSOWANIE METOD ASTRONOMICZNYCH W NAWIGACJI

ISBN: 978-83-60278-79-6
Autor: ŻOŁNIERUK D.
Wydawca: Wydawnictwo Akademickie Akademii Marynarki Wojennej
Rok wydania: 2014
Liczba stron: 530

Cena: 42.00 zł
Książka dostępna również w naszej księgarni w Poznaniu, ul. Piotrowo 3.

ASTRONAWIGACJA CZĘŚĆ 2 WYDANIE III ZASTOSOWANIE METOD ASTRONOMICZNYCH W NAWIGACJI

BADANIA WIZUALNE URZĄDZEŃ TECHNICZNYCH

BADANIA WIZUALNE URZĄDZEŃ TECHNICZNYCH

ISBN: 978-83-87848-30-1
Autor: HLEBOWICZ J.
Wydawca: Gamma
Rok wydania: 2002
Liczba stron: 76

Cena: 31.50 zł
Książka dostępna również w naszej księgarni w Poznaniu, ul. Piotrowo 3.

Spis treści...

ĆWICZENIA LABORATORYJNE Z ZAKRESU TECHNIK POMIAROWYCH W INŻ.CHEMICZNEJ

ĆWICZENIA LABORATORYJNE Z ZAKRESU TECHNIK POMIAROWYCH W INŻ.CHEMICZNEJ

ISBN: 978-97807242-862-2
Autor: PABIŚ A.
Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Krakowskiej
Rok wydania: 2015
Liczba stron: 248

Cena: 42.00 zł
Książka dostępna również w naszej księgarni w Poznaniu, ul. Piotrowo 3.

Aleksander Pabiś
Ćwiczenia laboratoryjne z zakresu technik pomiarowych w inżynierii chemicznej

ELEMENTY METROLOGII WIELKOŚCI GEOMETRYCZNYCH

ELEMENTY METROLOGII WIELKOŚCI GEOMETRYCZNYCH

ISBN: 978-83-7814-068-9
Autor: SAŁACIŃSKI T.
Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej
Rok wydania: 2013
Liczba stron: 92

Cena: 21.00 zł
Książka dostępna również w naszej księgarni w Poznaniu, ul. Piotrowo 3.

Skrypt zawiera zestaw przykładów i zadań niezbędnych do opanowania minimum wiedzy z zakresu metrologii długości i kąta. W ostatnim rozdziale zamieszczono oryginalne oprogramowanie do odczytywania wyników pomiaru statystycznej próbki i prezentacji oraz wydruku ostatecznego wyniku pomiaru.

JAK OPRACOWYWAĆ I INTERPRETOWAĆ WYNIKI POMIARÓW

JAK OPRACOWYWAĆ I INTERPRETOWAĆ WYNIKI POMIARÓW

ISBN: 978-83-7814-264-5
Autor: GAŁĄZKA-FRIEDMAN J.
Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej
Rok wydania: 2014
Liczba stron: 66

Cena: 18.00 zł
Książka dostępna również w naszej księgarni w Poznaniu, ul. Piotrowo 3.

Skrypt jest skierowany do studentów, którzy wykonują pomiary w dowolnych laboratoriach uczelni technicznych w Polsce.

LABVIEW W PRAKTYCE

LABVIEW W PRAKTYCE

ISBN: 978-83-60233-32-0
Autor: CHRUŚCIEL M.
Wydawca: Wydawnictwo BTC
Rok wydania: 2008
Liczba stron: 182

Cena: 70.00 zł
Książka dostępna również w naszej księgarni w Poznaniu, ul. Piotrowo 3.

Książka jest poradnikiem przygotowanym z myślą o elektronikach i automatykach (zarówno kadrze inżynierskiej jak i studentach uczelni...

METODY RADIOLOGICZNE TERMINOLOGIA

METODY RADIOLOGICZNE TERMINOLOGIA

ISBN: 978-83-87848-57-6
Autor: BESZTAK K.,JEZIERSKI
Wydawca: Biuro Gamma
Rok wydania: 2007
Liczba stron: 124

Cena: 42.00 zł
Książka dostępna również w naszej księgarni w Poznaniu, ul. Piotrowo 3.

Spis treści:

METROLOGIA

ISBN: 978-83-208-2175-8
Autor: JAKUBIEC W.
Wydawca: Polskie Wydawnictwo Ekonomiczne
Rok wydania: 2014
Liczba stron: 348

Cena: 64.90 zł
Książka dostępna również w naszej księgarni w Poznaniu, ul. Piotrowo 3.

Podręcznik stanowi kompendium wiedzy z metrologii – dziedziny wiedzy towarzyszącej człowiekowi od dawna, zarówno w życiu codziennym, jak i w procesach wytwarzania wszelkich dóbr. Różne urządzenia pomiarowe są zainstalowane w domach i samochodach, spotyka się je w sklepach i na stacjach benzynowych.

METROLOGIA Z PODSTAWAMI SPECYFIKACJI GEOMETRII WYROBÓW GPS

METROLOGIA Z PODSTAWAMI SPECYFIKACJI GEOMETRII WYROBÓW GPS

ISBN: 978-83-7814-313-0
Autor: BIAŁAS S.
Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej
Rok wydania: 2014
Liczba stron: 306

Cena: 38.00 zł
Książka dostępna również w naszej księgarni w Poznaniu, ul. Piotrowo 3.

W opracowaniu przedstawiono problematykę wielkości podstawowych i pochodnych układu SI oraz jednostek ich miar. Wyjaśniono podstawowe pojęcia dotyczące błędów pomiarów. Szczegółowo pokazano sposoby szacowania niepewności pomiarów bezpośrednich i pośrednich.

«  |  1  |  2  |  3  |  »
Idź do strony
(wpisz numer strony od 1 do 3)
Zaloguj się do sklepu
E-mail:
Hasło:
 

Nie masz jeszcze konta?
Możesz je założyć tutaj.

Zapomniałeś hasła? Kliknij tutaj.

Wartość koszyka:
0 zł



Newsletter
E-mail:
Zapisz Wypisz
Biblioteka Logistyka
Nowości
Tania książka